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　　許多用戶在使用高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱時(shí)會(huì)使用低溫恒溫試驗(yàn).高溫恒溫試驗(yàn)或從低溫升高溫或從高溫降低到低溫的溫度變化試驗(yàn)。但是，如果該設(shè)備密封性能差，試驗(yàn)結(jié)果將不準(zhǔn)確。那么，試驗(yàn)設(shè)備密封性能差的具體危害是什么呢？

 

　　1.高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱試驗(yàn)后，工作室內(nèi)會(huì)有一層水滴，但如果設(shè)備密封效果不好，可能會(huì)造成蒸汽流失，增加設(shè)備用水量，仍會(huì)造成企業(yè)資源浪費(fèi)。

　　2.設(shè)備密封不良主要是由于測(cè)試結(jié)果誤差大，密封不良的主要原因是箱門上的密封條老化變形。如果用戶需要確定是否能解決這種情況，如果由于嚴(yán)重老化而無(wú)法解決，請(qǐng)及時(shí)找到技術(shù)人員，帶上可更換的密封條。

 

　　3.溫度難以達(dá)到設(shè)備溫度，由于設(shè)備密封不良，試驗(yàn)室溫度在試驗(yàn)過程中不斷損失，試驗(yàn)設(shè)備也需要持續(xù)運(yùn)行以提高或降低溫度，但可能仍不能達(dá)到設(shè)定的環(huán)境，但會(huì)使用戶在使用設(shè)備能量時(shí)造成更大的浪費(fèi)。

 

　　4.這種情況不僅會(huì)導(dǎo)致高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱試驗(yàn)結(jié)果不準(zhǔn)確，還會(huì)導(dǎo)致操作人員在使用過程中打開箱門，導(dǎo)致室內(nèi)溫度損失時(shí)間過長(zhǎng)。但也可能是因?yàn)橄溟T在測(cè)試前沒有關(guān)閉，所以測(cè)試前一定要仔細(xì)檢查，否則除了溫度達(dá)不到設(shè)定值外，還會(huì)出現(xiàn)各種問題。

 

　　這里分享以上高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱密封性差的危害。該試驗(yàn)設(shè)備適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品等各種電子元件在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的指標(biāo)檢驗(yàn)。